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微区反射率测量系统—测量微小区域
- Hightlight:
- 光斑大小5um(实测)
- 细小物品测试透/反射率
- 带移动平台最小精度2μm
- 产品介绍
上海解普科技,微区透反射测量系统采用比例法来测定光谱的反射率,集成的进口卤钨灯,可连续使用2000小时,稳定性 > 99.99%。反射率测量系统对样品进行无损、快速、高精度测量,光斑大小5um(实测),可对细小物品测试透反射率。带自动平台可进行平面扫描。
微区透反射率测量系统亮点
1. 采用先进光谱测量技术,快速全光谱反射率测量。
2、光源由大功率卤素灯组成,提供400-2500nm宽光谱光源,光谱探测器由日本滨松进口,高精度低噪声,2048个光学通道,更加精密的光学测量
3. 实时显示 350-1000NM 各波段反射率数据跟光谱曲线。
4. 光斑大小5um,可以测量微小区域的透反射率
5、可计算 CIE 颜色参数,XY、LAB、
6、软件内置强大测量分析管理软件,可根据客户要求进行测自定义测量方案
7、薄膜反射率检测
微区透反射率测量系统优势
高分辨率,最小分辨率 0.2nm(视波长范围而定)
光斑大小5um,可以测量微小区域的透射和反射率
自带物镜5x, 20x, 50x, 100x
信噪比 :800:1
*snr=(Signal-Noise)/Devication
动态范围: 2000:1
**DR=(saturation/Dark)
外部触发/自动曝光/软件控制曝光多种工作模式
积分时间0.06毫秒-65秒
内置氙灯控制电路
支持SDK,易于集成到您的系统中
反射率测量系统规格
VIS3-200-800 | VIS3-350-950 | |
波长范围 | 200-800nm | 350-950nm |
适用应用 | 偏紫外段应用 | 偏可见光应用 |
建议搭配光源 | 闪烁氙灯 | 卤素灯 |
波长分辨率 | 2048通道,0.3nm间隔(最小) | 2048通道,0.3nm间隔(最小) |
探测器 | CMOS线性阵列,2048像素,线性比> 99.8% | CMOS线性阵列,2048像素,线性比> 99.8% |
运行模式 | 单次采集/连续采集/外部触发 | 单次采集/连续采集/外部触发 |
曝光时间 | 0.06 ms-65m | 0.06 ms-65m |
光学狭缝 | 25um (默认) / 50um / 100um, 200um | 25um (默认) / 50um / 100um, 200um |
照明接收 | 反射90度 | 反射90度 |
光斑大小 | 0.005mm(50倍镜下) | 0.005mm(50倍镜下) |
测量范围 | 反射率0-100% | 反射率0-100% |
单次采样时间 | 0.01秒 | 0.01秒 |
波长精度 | <0.5nm | <0.5nm |
波长重复性 | 0.1nm | 0.1nm |
反射率精度 | 0.5% | 0.5% |
仪器重复性 | >99.9% | >99.9% |
运动平台 | X 300mm,Y 300mm,Z 200mm | 运动平台 |
运动平台精度 | X-Y精度1um,重复定位精度1um | X-Y精度1um,重复定位精度1um |
连续运行时间 | 可连续6小时运行 | 可连续6小时运行 |
Mapping成像 | 支持高光谱mapping成像 | 支持高光谱mapping成像 |
测量参数 | 波长反射率、平均反射率率,反射率光谱曲线、反射率随时间变化曲线、XY,XYZ,LAB,HSV, UVA, UVB, UVC | 波长反射率、平均反射率率,反射率光谱曲线、反射率随时间变化曲线、XY,XYZ,LAB,HSV, UVA, UVB, UVC |
电路 | 内置氙灯控制电路 | 内置氙灯控制电路 |
连接器和数据 | 30PIN-连接器,包括USB(480Mbps)/ TTL(3.3v)/ RS232 / 485 | 30PIN-连接器,包括USB(480Mbps)/ TTL(3.3v)/ RS232 / 485 |
集成方案 | 透射率、吸收率、反射率、辐照度等 | 透射率、吸收率、反射率、辐照度等 |
自恢复装置 | 7x24小时365天不间断工作,自带watchdog | 7x24小时365天不间断工作,自带watchdog |
尺寸 | 300 x 185 x 104 mm | 300 x 185 x 104 mm |
采集控制软件
SpectrumFactory是一款专业光谱处理软件
软件支持
1. 透反射模式,玻璃或者透明物的透反射率
2. 拉曼模式,可联合激光器,测量拉曼光谱
3. 浓度模式,可联合氙灯,测量紫外波长下的,吸光度,从而根据朗伯比尔定律,测得液体浓度
4. 全自动电机平台控制,支持一轴电机,二轴电机,三轴电机,显微镜电机,自动对焦,支持摄像头,支持拼谱显示,支持运动控制,如圆弧采集,S型加减速等
5. X轴时序测量模式,可联合汞氩灯测试X轴稳定性,
6. Y轴时序测量模式,可联合激光器测试激光中心波长稳定性
7. 显微模式,可联合电机平台,测得高光谱图像, 支持透反射高光谱,和拉曼高光谱
8. LIBS模式,可联合1064 Nd-YAG激光器,测得金属成分
9. 膜厚测量,可测量5um – 100um薄膜厚度
10. 分光测色,可测量XYZ, Lab, Yxy, HSV, LCH, RGB等参数
11. 在线测量,可远程控制光谱仪测量数据
12. 均匀性测量,可测试样品的分布均匀性,包括药品颗粒的均匀性,或者LED灯光的均匀性
超强稳定性
作为一款工业级光谱仪,稳定性是最重要的技术指标,整机的稳定性,由光谱仪稳定性 + 光源稳定性共同组成
光谱仪稳定性
光谱仪光强稳定性>99.99%
光谱仪波长准确性 +/- 0.5nm
光谱仪波长温度稳定性
光谱仪波长重复性
卤素灯稳定性> 99.9%
整机稳定性实测图
稳定性极佳,预热15分钟后,卤素灯稳定性>99.9%,整机稳定性大于99% (8小时实测)
显微镜与电动平台
显微自动平台,搭配程序可实现透反射Mapping扫描,自动平台精度1um, 重复性2um。搭载显微,光斑大小5um
高光谱成像
vis3 可搭载显微自动平台,结合软件算法实现高光谱成像。光谱配合电机算法实现Mapping
反射率测量原理
反射率测量过程
测试过程
1. 关闭光源,采集光谱设备电子噪声
2. 打开光源,设置100ms曝光时间,放置白板,采集参比光谱
3. 移除白板,放置被测物,采集被测物光谱,坐标轴X轴为光谱波长, Y轴为波长对应的反射率
应用行业:
可以实现纺织品颜色检测
纺织品布料透过率检测,透射率检测
高分子材料 纳米材料的透过率检测,透射率检测,反射率检测
眼镜透过率检测
半导体膜厚检测
LED灯泡检测等
更多应用案例:
汽车零部件微区反射率测量:https://www.jnewtech.com/?list_165/1274.html
镭雕工件反射率测量:https://www.jnewtech.com/?list_165/1272.html
0.12mm微小银丝的反射率:https://www.jnewtech.com/?list_165/1270.html
AU元素微小物品测色:https://www.jnewtech.com/?list_165/1273.html
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