上海解普科技，反射率测量仪用比例法来测定光谱的反射率，集成的进口卤钨灯，可连续使用2000小时，稳定性 > 99.99%。反射率测量系统对样品进行无损、快速、高精度测量，可用于多行业的反射率参数测量。广泛应用于高分子材料、光学镜片、各种晶体塑料盒纺织品、LED背光板等产品的测量方案中。

抖音视频演示

https://www.douyin.com/user/self?modal_id=7363167072077057280

B站的视频演示

https://www.bilibili.com/video/BV1sH4y1V7CD/

反射率测量系统亮点

1. 采用先进光谱测量技术，快速全光谱反射率测量。

2、光源由大功率卤素灯组成，提供400-2500nm宽光谱光源，光谱探测器由日本滨松进口，高精度低噪声，2048个光学通道，更加精密的光学测量

3. 实时显示 400-1000NM 各波段反射率数据跟光谱曲线。

4、可计算 CIE 颜色参数，XY、LAB、

5、专业测试软件，可根据实际操作需求设定、储存及打印列表资料。

6、软件内置强大测量分析管理软件，可根据客户要求进行测自定义测量方案

7、薄膜反射率检测符合国内外的测量标准规范。

反射率测量系统优势

• 高分辨率，最小分辨率 0.2nm(视波长范围而定)

• 在 UV 和 VIS 波段高灵敏度

• USB、RS232、TTL、485、modbus连接接口

• 信噪比 ：800:1

          *snr=(Signal-Noise)/Devication

• 动态范围： 2000:1

         **DR=(saturation/Dark)

• 超低杂散光

• 外部触发/自动曝光/软件控制曝光多种工作模式

• 积分时间8毫秒-65秒

• 内置氙灯控制电路

• 支持SDK，易于集成到您的系统中

反射率测量系统规格

采集控制软件

SpectrumFactory是一款专业光谱处理软件

软件支持

1. 透反射模式，玻璃或者透明物的透反射率

2. 拉曼模式，可联合激光器，测量拉曼光谱

3. 浓度模式，可联合氙灯，测量紫外波长下的，吸光度，从而根据朗伯比尔定律，测得液体浓度

4. 全自动电机平台控制，支持一轴电机，二轴电机，三轴电机，显微镜电机，自动对焦，支持摄像头，支持拼谱显示，支持运动控制，如圆弧采集，S型加减速等

5. X轴时序测量模式，可联合汞氩灯测试X轴稳定性，

6. Y轴时序测量模式，可联合激光器测试激光中心波长稳定性

7. 显微模式，可联合电机平台，测得高光谱图像， 支持透反射高光谱，和拉曼高光谱

8. LIBS模式，可联合1064 Nd-YAG激光器，测得金属成分

9. 膜厚测量，可测量5um – 100um薄膜厚度

10. 分光测色，可测量XYZ, Lab, Yxy, HSV, LCH, RGB等参数

11. 在线测量，可远程控制光谱仪测量数据

12. 均匀性测量，可测试样品的分布均匀性，包括药品颗粒的均匀性，或者LED灯光的均匀性

超强稳定性

作为一款工业级光谱仪，稳定性是最重要的技术指标，整机的稳定性，由光谱仪稳定性 + 光源稳定性共同组成

光谱仪稳定性

光谱仪光强稳定性>99.99%

光谱仪波长准确性 +/- 0.5nm

光谱仪波长温度稳定性

光谱仪波长重复性

卤素灯稳定性> 99.9%

整机稳定性实测图

稳定性极佳，预热15分钟后，卤素灯稳定性>99.9%,整机稳定性大于99% (8小时实测)

显微镜与电动平台

VIS3 可搭载显微自动平台，组合为显微透反射光谱系统，搭配程序可实现透反射Mapping扫描，自动平台精度1um， 重复性2um。

高光谱成像

vis3 可搭载显微自动平台，结合软件算法实现高光谱成像。

光谱配合电机算法实现Mapping

反射率测量原理

反射率测量过程

测试过程

1. 关闭光源，采集光谱设备电子噪声

2. 打开光源，设置100ms曝光时间，放置白板，采集参比光谱

3. 移除白板，放置被测物，采集被测物光谱，坐标轴X轴为光谱波长， Y轴为波长对应的反射率

应用行业：

可以实现纺织品颜色检测

纺织品布料透过率检测，透射率检测

高分子材料 纳米材料的透过率检测，透射率检测，反射率检测

眼镜透过率检测

半导体膜厚检测

LED灯泡检测等

更多应用案例：

反射率测量系统在薄膜涂层上的应用：https://www.jnewtech.com/?list_165/1198.html

反射率测量系统在6061铝件生产中的应用：https://www.jnewtech.com/?list_77/1195.html